SuperView WX100 白光干涉测头
测量功能：能够实现样件表面的高精密Z向扫描，获取3D图像 分析功能：能够获取关于表面质量的粗糙度、微纳级别的轮廓尺寸等2D、3D数据 编程功能：支持预配置数据处理和分析工具步骤，一键完成测量到分析全过程 批量分析：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数数据实现一键批量分析
关键词：
尺寸测量类
产品附件：
零售价
市场价
重量
分类：
库存剩余
隐藏域元素占位
- 产品描述
-
- 商品名称: SuperView WX100 白光干涉测头
测量功能：能够实现样件表面的高精密Z向扫描，获取3D图像 分析功能：能够获取关于表面质量的粗糙度、微纳级别的轮廓尺寸等2D、3D数据 编程功能：支持预配置数据处理和分析工具步骤，一键完成测量到分析全过程 批量分析：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数数据实现一键批量分析
产品功能
测量功能：能够实现样件表面的高精密Z向扫描，获取3D图像
分析功能：能够获取关于表面质量的粗糙度、微纳级别的轮廓尺寸等2D、3D数据
编程功能：支持预配置数据处理和分析工具步骤，一键完成测量到分析全过程
批量分析：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数数据实现一键批量分析应用领域
半导体、抛光硅片、减薄硅片、晶圆IC
3C电子、蓝宝石玻璃粗糙度、金属壳模具瑕疵、玻璃屏高度差
技术参数
仪器型号
WX110
WX100
光源
白光LED
影像系统
1024×1024
干涉物镜
10×,(20×,50×)
标准视场
0.98×0.98mm
物镜塔台
单孔
外形尺寸
190×130×350mm
230×200×380mm
水平调整
-
±2°电动
Z向行程
30mm
Z向扫描范围
10mm（视具体镜头而定）
Z向分辨率
0.1nm
形貌重复性
0.1nm
粗糙度RMS重复性
0.01nm
台阶
准确度
0.5%
测量
重复性
0.1%1σ
关键词：
产品询价
公司地址：
(国内)：厦门市湖里区北融信大厦3F-D2 (越南)：越南-河南省-同文社-同文坊-阮有进388号
电 话：+86 0592-5631009（国内）
手 机：+86 13859953392（国内）
邮 箱：dong5631009@126.com
电 话：+84 0384656346（越南）
手 机：+84 0384656346（越南）
快捷导航：
手机网站二维码