二氧化硅上的银颗粒
扫描电镜Thermo Apreo 2 SEM
Apreo 2 高分辨场发射扫描电镜具备卓越的低电压、小束流成像性能,标配6种类型的探测器(T2、T2、T3、ETD、Nav-Cam、IR-CCD),纳米级相应速率可将电子束驻留时间尽量缩短,以及多种智能化扫描技术可将材料的电子束损伤控制到极限,是专为锂电池材料表征分析而优化设计,实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析。
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显微镜
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- 产品描述
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- 商品名称: 扫描电镜Thermo Apreo 2 SEM
Apreo 2 高分辨场发射扫描电镜具备卓越的低电压、小束流成像性能,标配6种类型的探测器(T2、T2、T3、ETD、Nav-Cam、IR-CCD),纳米级相应速率可将电子束驻留时间尽量缩短,以及多种智能化扫描技术可将材料的电子束损伤控制到极限,是专为锂电池材料表征分析而优化设计,实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析。
产品概述:
Thermo Scientific Apreo 2 SEM场发射扫描电镜搭载实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更
加专注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能,采用了创新性的末级透镜设计,引入静电式末级透镜,支持镜筒内高分辨率检
测,即使是针对磁性样品也可实现ji佳成像及分析性能。Apreo 2 SEM在原有性能基础上,新一步优化了高分辨成像能力,并且增设许多新功能提升其易
用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign(zhi能对中)技术,不再需要用户手动进行调整操作,而且,FLASH自动执行精细调节工
作,只需移动鼠标几次,就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚 焦矫正。此外,Apreo 2 SEM可以在10mm分析工作距离下具有1nm分辨率的SEM,
远的工作距离不再意味着低分辨成像,系统还可 升 级实时元素谱/图成像功能,颠覆了几十年来传统SEM-EDS固有的元素分析流程,将元素分析效率提
升2倍有余。 Apreo 2 SEM,任何用户都可以轻松地得到 优 质的分析效果。
产品参数:
发射源:稳定型肖特基场发射电子枪
加速电压范围:200 V ~ 30 kV
着陆电压范围:200 eV ~ 30 keV
探针电流范围:1 pA ~ 50 nA,连续可调(可选配400 nA)
大水平视场宽度:10 mm WD时为3 mm(相当于 zui 低放大倍率29倍)
X-Ray工作距离:10 mm,EDS检出角35°
样品室:从左至右为340mm宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3个(其中2个处于180°对角位置)
样品台:五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15º~90º,R=360º (连续旋转)
多用途SEM样品安装载物台,可同时放置 18 个标准样品座(φ12mm)
探测器系统:
样品室二次电子探测器ETD
镜筒内背散射电子探测器T1
镜筒内二次电子探测器T2
镜筒内二次电子探测器T3(选配)
样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)
图像导航彩色光学相机Nav-Cam+™
样品室低真空二次电子探测器(选配)
可伸缩透镜下背散射探测器(选配)
控制系统:
操作系统:Windows 10
图像显示:24寸LCD显示器,zui高显示分辨率1920×1200
支持用户自定义的GUI,可同时实时显示四幅图像
软件支持Undo和Redo功能☆ 全面解析
全面的纳米和亚纳米分辨率性能,适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料;
☆ 极 佳的灵活性非常灵活的处理范围广泛的样品类型,包括绝缘体,敏感材料,或磁性样品,并收集对您的应用重要的数据;
☆ SmartAlign技术使用SmartAlign技术(智 能调整光学系统),实现光学系统自动调整,减少维护时间;
☆ 先进的自动化先进的自动化包括FLASH自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH技术;
☆ 实时定量EDS元素信息触手可及,利用ColorSEM技术,提供实时元素面分布成像定量分析,结果获取更加快速、简便;
☆ 标准工作流操作内置了User Guidance(用户工作流)功能,无论是初学者还是经验丰富,都能够快速上手,并稳定获取实验数据。
技术规格:
型号 Apreo 2 S Apreo 2 C 分辨率 在 1 kV 下 0.9 nm,
在 1 kV 下 0.8 nm(光束减速)
在 1 kV 下 1.0 nm、工作距离为 10 mm (光束减速)
在 500 kV 下 0.8 nm(光束减速)
在 200 kV 下 1.2 nm(光束减速)
在 1 kV 下 1.2 nm
在 1 kV 下 1.0 nm(光束减速)
在 500 kV 下 1.2 nm(光束减速)标准检测器 ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+ ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+ PivotBeam 选定区域电子通道的模式(也称为"摇摆光束"模式) 不适用 可选检测器 DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等。 ColorSEM 技术(可选) 可基于能量色散 X 射线光谱 (EDS) 进行实时定量 SEM 图像着色。
包含点 & ID、线扫描、区域、元素图和可靠的Noran 定量。
着陆能量范围 20 eV – 30 keV 载物台偏倚(光束减速) 4000 V 至 +600 V 标准(每个系统) 低真空模式 可选:10 – 500 Pa 腔室压力。 载物台 5-轴电动共心载物台,110 x 110 mm2,105° 倾斜范围。最大样品重量:未倾斜位置,5 kg。 最大射束电流 50 nA(也可配置为 400 nA) 标准样品支架 款多用途支架,以独特方式直接安装在载物台上,容纳多达 18 个标准样品托 (Ø12 mm)、
三个预倾斜样品托、交叉切片样品和两个预倾斜排杆支架(38° 和 90°),无需工具即可安装样品。
腔室 340 mm 内宽,12 个端口,最多三个同步 EDS 检测器(两个在 180° 处)、
共面 EDS/EBSD 与载物台的倾斜轴正交
观测图像:
应用:
基础材料研究
越来越小的规模研究新型材料、以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

质量控制
质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光谱工具、使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的
决策。

彩色扫描电镜
通过使用实时 EDS(能量色散 X 射线光谱)和实时定量,ColorSEM 技术将 SEM 成像转换为彩色技术。任何用户现在都可以连续获取元素数据,获得比以往任何时候更多的完整信息。

能量色散谱
能量色散谱 (EDS) 可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像、为电镜观察提供关键的组成背景。利用 EDS 可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

对热样品进行成像
在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或 DualBeam 工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

多尺度分析
必须在更高分辨率下分析新材料、同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如 X 射线 microCT、DualBeam、激
光 PFIB、SEM 和 TEM)关联。

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